產品展示【模塊】 產品展示【模塊】 副標題
XRD系列 —— 布魯克的X射線衍射分析解決方案,深度融合X射線衍射基礎,精準詳析材料特性,無縫覆蓋工業質控需求。從基礎研究到生產一線,我們的產品組合以無損表征技術為核心,為客戶提供從材料微觀結構探索到工業生產質量控制的全鏈條前瞻性解決方案。
XRF系列 —— XRF光譜技術,由布魯克精心打造,適用于液、固、粉末樣品,實現元素全面分析。其高精度與快速樣品處理完美結合,覆蓋鈹至鈾全元素范圍,檢測靈敏度跨越亞ppm至100%濃度,滿足多樣化分析需求,高效助力科研與工業應用。 SD-XRD系列 —— 深入洞悉結構、功能及反應間關聯,是現代科學的基石。單晶X射線衍射(SC-XRD/SXRD/SCD)技術,作為揭示這些奧秘的利器,已成為科研探索新知的必備工具,精準解析物質微觀世界,引領科學發現新紀元。 XRM系列 —— 三維X射線顯微鏡(3D XRM)產品系列,為工業與科研領域提供一站式無損3D成像方案。其應用領域廣泛,涵蓋鑄造缺陷檢測、機械精密件檢驗、增材制造質量控制、藥品封裝分析、醫療器械精密掃描,乃至地質樣品孔隙結構研究,實現原位顯微成像,助力各領域精準洞察與創新。
通過高能離子束轟擊樣品表面,誘導濺射產生二次離子,經質量分析器分析,獲取樣品表面及近表面成分信息。其廣泛應用于材料科學、生物醫藥、微電子等領域,具有高靈敏度、高分辨率及深度剖析能力。儀器類型多樣,包括TOF-SIMS、D-SIMS等。 二次離子質譜儀 系列 —— 電子能譜儀 系列 —— 利用光電效應分析樣品表面元素含量與狀態的高科技儀器。其工作原理基于光電子動能測定,精準識別元素種類與濃度。類型多樣,包括X射線光電子能譜(XPS)及俄歇電子能譜(AES)等。廣泛應用于材料科學、表面化學及催化劑研究。優勢在于高靈敏度與無損分析,但局限于淺層分析。 產品方案 Industry Applications |
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